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天瑞X射線熒光光譜儀EDX 3200S-PLUS (食品重金屬快速檢測儀)屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司自主研發(fā)的產(chǎn)品，設備采用了能量色散X射線熒光光譜（EDXRF)技術(shù)實現(xiàn)食品中微量重金屬有害元素的快速檢測，設備采用了*探測器和激發(fā)源等硬件配置。

本產(chǎn)品符合國標GB/T 18043-2013對儀器分辨率的要求，天瑞能量色散X射線熒光光譜儀EDX 3000采用Si-Pin半導體探測器，遠勝于正比計數(shù)探測器； 準確無誤地分析黃金， 鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600繼承了天瑞儀器EDX系列的準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結(jié)果符合國標GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達到斷代斷源的功效。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600H融匯合金分析技術(shù)，配備智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。

天瑞X射線熒光光譜儀Thick600是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術(shù)和經(jīng)驗，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。Thick600鍍層測厚儀使用實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。